特許

J-GLOBAL ID：200903036240781930

金属錯体担持粒子

発明者： 岡林 南洋 ,  白 志平
出願人/特許権者： 株式会社トクヤマ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-227675
公開番号（公開出願番号）：特開平6-206803
出願日： 1993年09月14日
公開日（公表日）： 1994年07月26日
要約：

【要約】 (修正有)【構成】 一般式、X-Y-Z(但し、Xは金属イオンに配位可能な基、Yは2価の炭化水素基で主鎖に酸素または硫黄原子を有していてもよい、Zはアルコキシシリル基を示す)で表される配位子が銀イオン、銅イオンなどの金属イオンに配位してなる金属錯体化合物を、シリカ、タルク、アルミナ等の担体粒子上に担持したことを特徴とする金属錯体担持粒子、該金属錯体担持粒子を主成分とすることを特徴とする抗菌材、並びに該抗菌性金属錯体担持粒子をポリプロピレン等の樹脂に分散させ、例えばフィルムに成形した抗菌性樹脂組成物に関する。【効果】 これらの抗菌性樹脂組成物から金属イオンが効率よく且つ持続的に解離し、金属イオンは少量でも、抗菌効果が大きく、耐久性も優れているばかりでなく、経済性、環境問題の点からも好ましい。また、金属錯体化合物自身の耐熱性も向上する。

請求項（抜粋）：

一般式、X-Y-Z(但し、Xは金属イオンに配位可能な基、Yは2価の炭化水素基で主鎖に酸素または硫黄原子を有していてもよい、Zはアルコキシシリル基を示す)で表される配位子が、銀イオン、銅イオン、亜鉛イオン、錫イオン、およびクロムイオンからなる群より選ばれた少なくとも一種の金属イオンに配位してなる金属錯体化合物を、担体粒子上に担持したことを特徴とする金属錯体担持粒子。

IPC (3件)：

A01N 55/02 ,  C08K 5/56 KCF ,  C08K 5/57 KCG