特許

J-GLOBAL ID：200903036249985635

差動型SQUID磁束計及びこれを用いたSQUID磁束計システム

発明者： 横澤 宏一 ,  岡島 健一 ,  牧絵 恵子 ,  神鳥 明彦 ,  栗城 真也
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-292434
公開番号（公開出願番号）：特開平6-138197
出願日： 1992年10月30日
公開日（公表日）： 1994年05月20日
要約：

【要約】【目的】 簡易な磁気シールドルーム中で動作し、かつ信頼性の高いSQUID磁束計を実現する。【構成】 センシング用マグネトメータには雑音消去コイル34が設けられ、帰還コイル13aと直列に接続する。全体は被検者とともに遮蔽率3桁程度の磁気シールドルームに入れられ、キャンセレーション用マグネトメータの感度はセンシング用に比べて2桁程度低く設定される。検出コイル10を貫く磁束をFLL25aからの帰還コイル13aの磁束で打ち消し、帰還コイル13aを流れた電流は雑音消去コイル34に流れ、検出コイル30を貫く磁束も同時に打ち消し、センシング用マグネトメータの出力は、コイル10とコイル30の差分出力となる。【効果】 各々のマグネトメータは薄膜で構成するためキャンセル率が高い。

請求項（抜粋）：

検出コイル、入力コイル、帰還コイル、変調コイル、ならびにSQUIDを有し、フラックス・ロックド・ループで動作するSQUIDを用いた磁束計を少なくとも2個有し、少なくとも一の磁束計の発生する信号を、少なくとも一の他の磁束計に磁気的に印加することを特徴とする差動型SQUID磁束計。

IPC (2件)：

G01R 33/035 ZAA ,  H01L 39/22 ZAA

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-032384
  
• 特開平4-134878
  
• 特開平2-096677