特許

J-GLOBAL ID：200903036307336626

シワの鑑別法及びその進度を指標とする化粧料の選択方法

発明者： 宮澤 雅一 ,  藤原 典雄 ,  橿淵 暢夫 ,  平井 義和
出願人/特許権者： ポーラ化成工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-015062
公開番号（公開出願番号）：特開2000-212035
出願日： 1999年01月25日
公開日（公表日）： 2000年08月02日
要約：

【要約】【課題】 シワ形成の過程を正確に知る技術、言い換えれば、シワ形成可能性を鑑別する技術を提供する。【解決手段】

請求項（抜粋）：

顔の皮膚の肌理の乱れを指標とする、シワ形成可能性の鑑別法。

IPC (2件)：

A61K 7/00 ,  G01N 33/50

FI (2件)：

A61K 7/00 Z ,  G01N 33/50 Q

Fターム (18件)：

2G045AA40 ,  2G045CB09 ,  2G045FA11 ,  2G045FA16 ,  2G045FA18 ,  2G045FA19 ,  4C083AA112 ,  4C083AC102 ,  4C083AC122 ,  4C083AC302 ,  4C083AC352 ,  4C083AC482 ,  4C083AD312 ,  4C083AD412 ,  4C083CC03 ,  4C083DD23 ,  4C083EE12 ,  4C083EE50

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 肌質測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-314268   出願人：ポーラ化成工業株式会社
• 特開昭62-056985