特許
J-GLOBAL ID:200903036316007651

機器分析用の多数容器構造体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 江崎 光史 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-250940
公開番号(公開出願番号):特開平7-190924
出願日: 1994年10月17日
公開日(公表日): 1995年07月28日
要約:
【要約】【目的】 メニスカスが形成されず、かつ放射線を吸収しない多数容器構造体を提供する。【構成】 液体試料の機器分析の際に、ほとんど透明な材料で作られる。この滴定板は、試料と材料の種類に応じて、凹形または凸形の液体表面を形成し、分析時の測定結果をしばしば不正確にする。物理特性が異なる二つの材料からなる多数容器構造体11,2により、液体表面20に界面応力が生じるので、この液体表面はほぼ平である。その際、好ましくは、底2は透明な材料で作られ、それによって透過で分析と監視を行うことができる。この種の滴定板の主たる用途は、電気光学式機器分析にある。
請求項(抜粋):
少なくとも容器底が透明な材料からなり、かつ平面内に設けられている、少なくとも一時的に液体である試料を機器分析するための多数容器構造体において、容器壁(1)と容器底(2)のために、物理的特性の異なる材料が使用され、分析される試料に依存して試料と容器壁(1)の間に生じる界面張力が少なくともほぼ平らな試料表面(20)を生じるように、容器壁(1)の材料が選定され、容器底(1)が試料の観察およびまたは評価に適した材料からなっていることを特徴とする多数容器構造体。
IPC (2件):
G01N 21/03 ,  G01N 35/02

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