特許

J-GLOBAL ID：200903036353045792

センサーをチェックするための方法及び装置

発明者： ブロッホ、ヴァルター
出願人/特許権者： クノール-ブレムセ・エレクトロニク・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング
代理人 (1件)： 曾我 道照 (外6名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-529697
公開番号（公開出願番号）：特表2000-504840
出願日： 1996年12月12日
公開日（公表日）： 2000年04月18日
要約：

【要約】本発明は、非電気的な物理的な値に基づいて、電気的測定信号を発生させるセンサー(2)をチェックするための方法に関する。このため、電気的チェック信号(S1)が印加されるとき、センサー(2)によって測定されるべき物理的な値として同一タイプの非電気的な物理的な値を発生させるテスト値送信機(3)が設けられる。テスト値送信機(3)とセンサー(2)とは、物理的な値に関して互いに結合される。電気的チェック信号と電気的テスト信号は互いに比較される。このようにして、テスト値送信機は、センサーの測定動作をシミュレートして、センサーは、その全測定範囲に亘ってそれ自体の物理的測定動作に基づいてチェックされる。

請求項（抜粋）：

非電気的な物理的パラメータの作用に基づいて、電気的測定信号を発生させる型のセンサー(2)をチェックするための装置であって、電気的チェック信号(S1)が印加されるとき、同一タイプの非電気的な物理的パラメータ(G2)を発生させるテスト値送信機(3)を備え、前記パラメーターが前記センサー(2)によって測定されるとともに、前記テスト値送信機(3)で生成された非電気的な物理的パラメータ(G2)が前記センサー(2)に作用して該センサー(2)がテスト信号(S2)を生成し、その際に、前記チェック信号(S1)と前記テスト信号(S2)とが評価ユニット(8)に供給されて互いに比較されるように、前記パラメータが前記センサー(2)に結び付けられている装置。