特許

J-GLOBAL ID：200903036440253490

イオンクロマトグラフィー測定方法とその装置

発明者： 玉置 真希子 ,  山崎 貴代子
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝マイクロエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 諸田 英二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-069248
公開番号（公開出願番号）：特開平5-232094
出願日： 1992年02月18日
公開日（公表日）： 1993年09月07日
要約：

【要約】【目的】試料溶液中の微量な陰(または陽)イオンをイオンクロマトグラフィーで測定する場合、被測定イオン濃縮カラムで被測定イオンを吸着濃縮した後、溶離液で濃縮した該イオンを溶離し、分離カラムで分離測定する従来の方法及び装置では、試料溶液中に共存する被測定イオン以外の反対電荷(陽(または陰))イオンの影響を受け、濃縮カラムの濃縮効率が低下し、実際の値よりも被測定イオンの測定値が低くなるという課題を解決する。【構成】被測定イオンの濃縮カラムと分離カラムの前段に、被測定イオン以外のイオン(すなわち被測定イオンと反対電荷イオン)除去カラムを設け、濃縮カラムの濃縮効率を低下させる要因である共存反対電荷イオンを除去した後、濃縮カラムを通過させることにより課題を解決した。

請求項（抜粋）：

被測定イオンが陰イオンであり被測定イオン以外のイオンが陽イオンである場合、または被測定イオンが陽イオンであり被測定イオン以外のイオンが陰イオンである場合における試料溶液中のイオンをイオンクロマトグラフィーにて測定する方法において、被測定イオン以外のイオンを除去した後に被測定イオンを測定することを特徴とするイオンクロマトグラフィー測定方法。