特許

J-GLOBAL ID：200903036452449390

液晶表示装置の検査方法

発明者： 高橋 栄一
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 小池 隆彌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-080814
公開番号（公開出願番号）：特開2000-275595
出願日： 1999年03月25日
公開日（公表日）： 2000年10月06日
要約：

【要約】【課題】 反射型液晶表示装置を明るく均一な表示状態で検査できる検査精度の高い液晶表示装置の検査方法を提供する。【解決手段】 反射板または反射機能を有する反射電極等の反射層を備えた反射型液晶表示装置2に対し、キセノンランプまたはハロゲンランプ等の点光源からなる光源1を反射型液晶表示装置2の対角線の延長線上に配置して、光源1からの光3を反射型液晶表示装置2に照射する。このようにすれば、反射輝度のばらつきを小さくしてスジ状の反射むらが発生することを防ぐことができる。また、反射型液晶表示装置2の光源1から最も遠い領域4の照度が一番明るく、領域5、領域6、領域7と光源1に近づく程段階的に照度が暗くなるように光源1を配置する。このように、反射型液晶表示装置の反射特性を相殺し、反射型液晶表示装置2の輝度が均一状態となり、表示品位の検査精度を向上することができる。

請求項（抜粋）：

外形が矩形状の液晶表示装置に光源から光を照射して表示品位の検査を行う液晶表示装置の検査方法において、前記液晶表示装置の対角線の延長線上に前記光源を配置し、前記液晶表示装置の対角線に沿う方向に光を照射することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。

IPC (2件)：

G02F 1/13 101 ,  G01M 11/00

FI (2件)：

G02F 1/13 101 ,  G01M 11/00 T

Fターム (6件)：

2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088HA21 ,  2H088HA24 ,  2H088HA28 ,  2H088MA04