特許

J-GLOBAL ID：200903036476249570

線状パターン検出法、線状光線検出法及びその装置、並びに溶接ロボット装置

発明者： 柴田 信雄 ,  平井 明 ,  加納 稔 ,  須長 富士男
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-126334
公開番号（公開出願番号）：特開平6-331332
出願日： 1993年05月27日
公開日（公表日）： 1994年12月02日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 物体表面にスリット状の線状光線を照射し、該照射光のなす面に対し一定の角度をなす方向から2次元の受光手段で撮像して得られる直交配列(x,y)の開先光切断画像を高速に計算処理して対象物体の位置を検出する方法を提供。【構成】 画像デ-タ上で垂直方向第1番目の水平ライン上のスタ-ト点(x=1)から任意の2値化処理手段により各画素の濃度値に対する2値化処理計算を行ない変化点デ-タを検出する第1のステップ(フローF1、F2、F3、F9)と、該変化点デ-タの中心x座標位置を基準として次の水平ラインにおける2値化処理計算領域を決定する第2のステップ(フローF4、F5)と、該決定された計算領域で2値化処理を行ない変化点デ-タを検出する第3のステップ(フローF6)の処理構成と成っている。

請求項（抜粋）：

撮像した2次元(x、y)画像に対してラスタ走査を行って線状パターンを検出する線状パターン検出法において、任意の水平走査線Yi上でのx方向走査領域は、直前の水平走査線Yi-1上で線状パターンが検出できた場合にはこの線状パターンを含む所定の制限幅Wとし、直前の水平走査線Yi-1上で線状パターンが検出できない場合にはこの水平走査線Yi上のx方向の全幅とする線状パターン検出法。

IPC (4件)：

G01B 11/24 ,  B23K 9/12 331 ,  B23K 9/127 508 ,  G06F 15/62 400

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭62-101379
  
• 特開昭62-101379
  
• 特開平1-100411
  
• 特開平1-100411