特許

J-GLOBAL ID：200903036498968627

試料の無機物分析装置ならびに試料の無機物および/または有機物分析装置

発明者： 細川 好則 ,  三好 良夫 ,  片山 忠二
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所 ,  株式会社マック・サイエンス
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-185808
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013095
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】 例えば移動不可能な大型物品、大型遺物等の大型試料について、試料の微小領域を、異方性の有無にかかわりなくPSPCを用いて非破壊で無機分析できるとともに、無機分析を行った場所と同一の場所について、容易に有機分析を行うことを可能とする試料の無機物分析装置ならびに試料の無機物および/または有機物分析装置を提供すること。【解決手段】 試料3の微小領域4における無機物の分析を、前記微小領域に細束X線Aを照射するX線管6、前記細束X線を照射して得られる回折X線Bを計測する回折X線計数管8、および前記細束X線を照射して得られる蛍光X線を計測する蛍光X線検出器9を有し、細束X線照射軸15の回りに回転可能に設けた前記回折X線計数管を回転させて前記微小領域のX線分析による無機物の分析を行う手段を用いて行うとともに、前記微小領域における有機物の分析をFT-IR分析または蛍光分光分析またはラマン分析の少なくとも一つを用いて行うものである。

請求項（抜粋）：

試料の微小領域に細束X線を照射して得られる回折X線および蛍光X線を、それぞれ回折X線計数管および蛍光X線検出器にて計測する試料の無機物分析装置であって、前記回折X線計数管を細束X線照射軸の回りに回転可能に設け、前記細束X線を照射しながら前記回折X線計数管を回転させることを特徴とする試料の無機物分析装置。

IPC (5件)：

G01N 23/207 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/65 ,  G01N 23/223

FI (5件)：

G01N 23/207 ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 21/64 Z ,  G01N 21/65 ,  G01N 23/223

Fターム (43件)：

2G001AA01 ,  2G001AA07 ,  2G001AA10 ,  2G001BA04 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001CA07 ,  2G001DA01 ,  2G001DA07 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001GA13 ,  2G001JA06 ,  2G001KA01 ,  2G001KA08 ,  2G001LA05 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001SA02 ,  2G043AA03 ,  2G043BA14 ,  2G043BA17 ,  2G043CA07 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA05 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G059AA01 ,  2G059CC12 ,  2G059EE03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH03 ,  2G059HH05 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04