特許

J-GLOBAL ID：200903036502991159

電子素子測定装置

発明者： 田中秀司 ,  小松保明
出願人/特許権者： 横河・ヒューレット・パッカード株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 次男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-354920
公開番号（公開出願番号）：特開平5-172875
出願日： 1991年12月20日
公開日（公表日）： 1993年07月13日
要約：

【要約】【目的】3端子対測定装置でも4端子対標準器を直接測定できるようにした。【構成】1つの端子対28を追加した。

請求項（抜粋）：

信号源が接続された第1の端子対と電圧計が接続された第2、第3の端子対と短絡された端子対から成る第4の端子対と前記信号源の出力電流値と前記電圧計の測定電圧値とから被測定電子素子のインピーダンスを決定する計算手段とを備えた電子素子測定装置。