特許
J-GLOBAL ID：200903036545270544
LSIレイアウトデバイス抽出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-172232
公開番号（公開出願番号）：特開平6-020007
出願日： 1992年06月30日
公開日（公表日）： 1994年01月28日
要約：
【要約】【目的】人手を介することなく、レイアウトパターンに層を追加することなく、所定の文法に基づいて計算式を選択して算出する精度の高いデバイスパラメータ算出の方法を提供する。【構成】図形データ1を入力し、デバイス種類3を選択し、ユーザ指定11の中から計算式選択14で計算式の候補を絞り、デバイス解析5によりデバイス形状を解析する。単純矩形であれば計算式選択8により計算式を決定し、台形であれば図形の数7を判断し、計算式選択8によって対応する計算式を決定して、その計算式で計算することによりデバイスパラメータを算出する。計算結果はネットリスト用パラメータ作成10によってネットリスト処理へ引き渡すデータとして作成される。これによりデバイスパラメータの抽出精度を高める。
請求項（抜粋）：
LSIレイアウトマスク層群のマスクパターン情報の1組の重ね合せに対し1つの層を割り当てて抽出デバイス図形とし、前記抽出された図形の面積と周囲長を含む図形情報からチャネル長とチャネル幅を含むデバイスパラメータを算出し、前記パラメータの結果を参照してLSIレイアウトの接続情報を復元するLSIレイアウトデバイス抽出方法において、前記抽出されたデバイス図形の形状の複雑さをデバイスを構成する単純矩形または台形の数を指定した所定の文法により判定する機能と、前記抽出されたデバイス図形の前記単純矩形または台形の数に対応した前記デバイスパラメータを算出する計算式をそれぞれ独立して指定することができる機能とを有することを特徴とするLSIレイアウトデバイス抽出方法。
IPC (2件)：
G06F 15/60 370
, H01L 21/82
