特許

J-GLOBAL ID：200903036554304184

光ファイバセンサを用いたひずみとAEの計測装置

発明者： 津田 浩
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-172321
公開番号（公開出願番号）：特開2005-009937
出願日： 2003年06月17日
公開日（公表日）： 2005年01月13日
要約：

【課題】ファイバ・ブラッグ・グレーティング(以下「FBG」という。)センサを用いてひずみ変化を検出するとともに、材料・構造体の微視損傷発生にともなう弾性波放出(アコースティック・エミッション。以下、「AE」という。)を検出可能とする。【解決手段】FBGセンサと、広帯域光源と、FBGセンサから伝送される反射光を分岐するカップラーと、カップラーで分岐された反射光をそれぞれ反射又は透過させるひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタと、を備え、計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタは、二種類の波長のそれぞれに対応して互いに透過率が異なり、ひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタの透過光又は反射光は、ブラッグ波長の変化により強度が変化し、これらを光電変換器で電気信号に変換してひずみ変化とAEを同時に検出する。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

FBGを書き込んだ光ファイバから成り被検体に取り付けられるFBGセンサと、該FBGセンサに広帯域波長光を入射するための広帯域光源と、上記FBGセンサから伝送される反射光を分岐するカップラーと、該カップラーで分岐された反射光をそれぞれ反射又は透過させるひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタと、を備えて成る光ファイバセンサを用いたひずみとAEの計測装置であって、 上記ひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタは、二種類の波長のそれぞれに対応して互いに透過率が異なり、 上記ひずみ計測用のフィルタ及びAE検出用のフィルタの透過光又は反射光は、ブラッグ波長の変化により強度が変化し、これらを光電変換器で電気信号に変換してひずみ変化とAEを同時に検出することを特徴とする光ファイバひずみとAEの計測装置。

IPC (4件)：

G01B11/16 ,  G01B17/04 ,  G01D5/26 ,  G01N29/14

FI (4件)：

G01B11/16 G ,  G01B17/04 ,  G01D5/26 D ,  G01N29/14

Fターム (30件)：

2F065AA65 ,  2F065FF48 ,  2F065GG24 ,  2F065LL02 ,  2F065LL21 ,  2F065LL22 ,  2F065LL23 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F068AA45 ,  2F068AA49 ,  2F068FF00 ,  2F068GG07 ,  2F068GG09 ,  2F068KK16 ,  2F068QQ12 ,  2F068QQ25 ,  2F068QQ41 ,  2F068TT07 ,  2F103BA41 ,  2F103CA08 ,  2F103EB05 ,  2F103EB11 ,  2F103EC09 ,  2F103EC16 ,  2G047AC05 ,  2G047BA05 ,  2G047GF25