特許

J-GLOBAL ID：200903036581889356

EMI測定における外来ノイズの識別装置

発明者： 長田 徹 ,  有泉 均
出願人/特許権者： 株式会社ケミトツクス電波研究所
代理人 (1件)： 川久保 新一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-305269
公開番号（公開出願番号）：特開平5-119090
出願日： 1991年10月24日
公開日（公表日）： 1993年05月14日
要約：

【要約】【目的】 迅速かつ確実に測定することができるEMI測定における外来ノイズの識別装置を提供することを目的とするものである。【構成】 供試機器を回転し、第1の所定回転角度毎に、供試機器の近傍に設けたアンテナで受信した電磁波のピーク強度を測定し、この測定値を記憶し、第2の所定回転角度毎に上記ピーク強度をXY座標上にプロットし、このプロットを折れ線で結んで、アングルパターンを作り、このアングルパターンにおける折れ線で挟まれた交角を求め、この交角の大きさに応じて、外来ノイズを識別するものである。

請求項（抜粋）：

供試機器が放射する電磁波を測定するときに外来ノイズを識別する装置において、上記供試機器を回転する回転手段と;第1の所定回転角度毎に、上記供試機器の近傍に設けたアンテナで受信した電磁波のピーク強度を測定し、この測定値を記憶するピーク強度測定手段と;上記測定値に基づいて、第2の所定回転角度毎にピーク強度をXY座標上にプロットし、このプロットを折れ線で結んで、アングルパターンを作り、このアングルパターンにおける折れ線で挟まれた交角が所定角度以下であるときに、そのプロットに対応する電磁波が間欠性の外来ノイズであると識別する外来ノイズ識別手段と;を有することを特徴とするEMI測定における外来ノイズの識別装置。