特許
J-GLOBAL ID:200903036639364291
測距測角儀の機械高測定方法及び機械高測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
秋山 敦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-070916
公開番号(公開出願番号):特開平10-253357
出願日: 1997年03月10日
公開日(公表日): 1998年09月25日
要約:
【要約】【課題】 本発明の目的は、測距測角儀において機械高を容易かつ正確に測定できるようにした測量機の機械高測定方法及び機械高測定装置を提供する。【解決手段】 測距測角儀10の機械高測定方法は、機械中心Oが測点Pを通る鉛直線上に位置するように測量機用の三脚40に載置された測距測角儀10の機械高Hを測定するための測距測角儀の機械高測定方法において、反射鏡22を一箇所に設けた長尺部材21を測点Pに斜めに立て、測距測角儀10によって反射鏡22を視準してその天頂角を測定するとともに、測距測角儀10から反射鏡22に送信光を出射してその受信信号と基準信号との位相差より測距測角儀10の機械中心Oから反射鏡22までの距離を測定し、天頂角と、測距測角儀10の機械中心Oから反射鏡22までの距離と、を使用して測距測角儀10の機械高Hを求める。
請求項(抜粋):
機械中心が測点を通る鉛直線上に位置するように測量機用の三脚に載置された測距測角儀の機械高を測定するための測距測角儀の機械高測定方法において、反射鏡を一箇所に設けた長尺部材を前記測点に斜めに立て、前記測距測角儀によって前記反射鏡を視準してその天頂角を測定するとともに、前記測距測角儀から前記反射鏡に送信光を出射してその受信信号と基準信号との位相差より測距測角儀の機械中心から反射鏡までの距離を測定し、前記天頂角と、前記測距測角儀の機械中心から反射鏡までの距離と、を使用して前記測距測角儀の機械高を求めることを特徴とする測距測角儀の機械高測定方法。
IPC (3件):
G01C 15/00
, G01C 1/02
, G01C 15/06
FI (4件):
G01C 15/00 Q
, G01C 1/02 A
, G01C 1/02 L
, G01C 15/06 Z
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