特許
J-GLOBAL ID：200903036663514180
抵抗測定装置および回路基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-243541
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057285
出願日： 2001年08月10日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
要約：
【要約】【課題】 極く小径に形成されたランド間に対する四端子法による抵抗値測定を高精度かつ低コストで実行する。【解決手段】 パッケージ基板Pの裏面Pbに形成されたランド22aとスルーホール23を介してランド22aに接続されたランド21aとの間の抵抗値を四端子法に従って測定する回路基板検査装置1であって、絶縁された接触子E1,E2がランド22aに接触可能に構成されたプローブ16aと、表面Paを覆ってランド22aに導通可能な導電性ゴムマット13と、導電性ゴムマット13に対して絶縁した状態で貫通してランド21aに接触するプローブ12aとを備え、導電性ゴムマット13と接触子E1との間に所定電流を供給しつつ、導電性ゴムマット13を貫通してランド21aに接触させられたプローブ12aと接触子E2との間の電圧を測定し、測定電圧と所定電流の電流値とに基づいて抵抗値を測定する。
請求項（抜粋）：
回路基板の一面に形成された第1のランドと当該回路基板の他面に形成されてスルーホールを介して当該第1のランドに接続された第2のランドとの間の抵抗値を四端子法に従って測定する抵抗測定装置であって、互いに絶縁された一対の接触子を有すると共に当該一対の接触子が前記第1のランドに接触可能に構成された第1プローブと、前記回路基板の前記他面を覆って前記第2のランドに導通可能に形成された導電性ゴムマットと、当該導電性ゴムマットに対して絶縁した状態で貫通して前記第2のランドに接触可能に構成された第2プローブとを備え、前記他面を覆った状態の前記導電性ゴムマットと前記第1のランドに接触させられた前記第1プローブにおける前記一方の接触子との間に所定電流を供給しつつ、前記導電性ゴムマットを貫通して前記第2のランドに接触させられた前記第2プローブと前記第1プローブにおける前記他方の接触子との間の電圧を測定し、当該測定した電圧と前記供給した所定電流の電流値とに基づいて前記抵抗値を測定する抵抗測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/02
, G01R 27/02 R
2G014AA02
, 2G014AA13
, 2G014AB59
, 2G014AC10
, 2G014AC14
, 2G028AA01
, 2G028BB20
, 2G028BC01
, 2G028CG02
, 2G028FK08
, 2G028HM06
