特許

J-GLOBAL ID：200903036676481974

電子式はかりの零点およびスパン調整方法

発明者： 中本 昭 ,  上野 祐一郎 ,  大前 峰雄
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-285753
公開番号（公開出願番号）：特開平8-145772
出願日： 1994年11月21日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：

【要約】【目的】作業効率を改善する電子式はかりの零点・スパン調整方法を提供する。【構成】ロードセル1の荷重検出信号aの増幅信号a’からムダ目消去調整回路43において調整されたムダ目消去信号dを減算し、この減算信号eをゲイン調整回路45において調整し、A/D変換器16においてディジタル信号fに変換してコンピュータ41へ出力するアナログ回路部A’を備えた電子式はかりにおいて、コンピュータ41は、入力したはかりの秤量と目量に基づいて、ムダ目消去調整回路43とゲイン調整回路45のゲインを選択し、一定値以内のロードセル1及びアナログ回路部A’の零点の変化を許容できるようはかりの零点を自動調整し、かつスパンが最大となるように自動調整する。【効果】はかりの秤量と目量を入力するだけで、零点とスパンが自動調整されることにより、調整作業効率を改善でき、コストを低減できる。

請求項（抜粋）：

はかりの検出手段としてロードセルを有し、このロードセルの荷重検出信号より、ムダ目消去調整回路においてアナログ-ディジタル変換器の基準電圧より調整されるムダ目消去信号を減算し、この減算信号をゲイン調整回路において調整し、前記アナログ-ディジタル変換器においてディジタル信号に変換してコンピュータへ出力するアナログ回路部を有す電子式はかりにおける、零点およびスパンの調整方法であって、前記アナログ回路部を構成する素子により定まる、前記アナログ-ディジタル変換器のフルスケールをS,前記ゲイン調整回路が選択可能なゲインをGG ,前記ムダ目消去調整回路が選択可能なゲインをGM ,零点のアナログ-ディジタル変換器の最小出力基準値をK,スパンのアナログ-ディジタル変換器の最大出力基準値をM、前記コンピュータに入力される、前記電子式はかりの秤量をW,目量をZとすると、錘を載せない状態において、各ゲイン調整回路のゲインGG 毎に、アナログ-ディジタル変換器の出力値Lを計測し、L-GM ・GG ・S≧Kを満たす最大のムダ目消去調整回路のゲインGM を選択し、この選択されたゲインGM における零点値ωをω=L-GM ・GG ・Sにて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインGG 毎に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインGM と零点値ωを記憶し、次に秤量Wの錘を載せ、各ゲイン調整回路のゲインGG 毎に、選択されたムダ目消去調整回路のゲインGM に設定して、アナログ-ディジタル変換器の出力値Hを計測し、スパン値FをF=H-ωにて演算し、これら各ゲイン調整回路のゲインGG 毎に、スパン値Fを記憶し、F≦Mを満たす最大のスパン値Fのゲイン調整回路のゲインGG を選択し、この選択されたゲインGG におけるスパン値Fによりスパン係数Qを、Q=(W/Z)/Fにて演算して求め、前記選択されたゲインGG における零点値ωを零点スケールとし、選択されたムダ目消去調整回路のゲインGM を最終の調整ゲインGM とすることを特徴とする電子式はかりの零点およびスパン調整方法。