特許
J-GLOBAL ID：200903036678294047
粒体の粒度情報の計測方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-162404
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029318
出願日： 1994年07月14日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、低コストで容易に構成可能で、高速に計測が可能であり、更に、計測精度の向上とダイナミックレンジの拡大が容易な粒度情報の計測方法及び装置の提供を目的とする。【構成】 本発明の運動中の粒体の粒度又は粒度分布等の粒度情報を計測する方法は、運動中の粒体が少なくとも一の計測用プローブに衝突或いは接触する際に、計測用プローブに発生する振動或いは衝撃力の少なくとも一の成分を測定する段階(ステップ10)と、測定された振動或いは衝撃力の成分から特徴量を抽出する段階(ステップ20)と、抽出された特徴量に基づいて粒体の粒度情報を推定する段階(ステップ30)とよりなる。
請求項（抜粋）：
運動中の粒体の粒度又は粒度分布等の粒度情報を計測する方法であって、該運動中の粒体が少なくとも一の計測用プローブに衝突或いは接触する際に、該計測用プローブに発生する振動或いは衝撃力の少なくとも一の成分を測定する段階と、該測定された振動或いは衝撃力の成分から特徴量を抽出する段階と、少なくとも該抽出された特徴量に基づいて該粒体の該粒度情報を推定する段階とよりなる粒度情報計測方法。
IPC (2件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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