特許

J-GLOBAL ID：200903036713918067

表示装置の検査方法

発明者： 田中 千浩 ,  上島 基弘 ,  露木 正 ,  本田 賢一 ,  金子 英樹
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 川▲崎▼ 研二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-133126
公開番号（公開出願番号）：特開2002-328627
出願日： 2001年04月27日
公開日（公表日）： 2002年11月15日
要約：

【要約】【課題】 走査線およびデータ線の交差に対応して設けられる画素の欠陥等を、容易に発見する。【解決手段】 奇数行目、偶数行目の走査線214の各々をそれぞれ短絡する短絡配線216、218と、すべてのデータ線314を短絡する短絡配線318とを予め形成しておき、これらの短絡配線の各々を介し、画素に対して駆動電圧を印加して、当該画素の点灯を検査し、この後、正常であれば、直線390に沿って配線を切断して、駆動用のドライバやFPC基板を実装する。

請求項（抜粋）：

走査線とデータ線との交差に対応して画素が配列する表示装置の検査方法であって、少なくとも2本以上の走査線を短絡する第1の短絡配線と、少なくとも2本以上のデータ線を短絡する第2の短絡配線とを形成する行程と、前記第1および第2の短絡配線の各々を介し、画素に対して駆動電圧を印加して、当該画素の点灯を検査する行程と、短絡した走査線から第1の短絡配線を電気的に切断するとともに、短絡したデータ線から第2の短絡配線を電気的に切断する行程とを備えることを特徴とする表示装置の検査方法。

IPC (5件)：

G09F 9/00 352 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1343 ,  G02F 1/1365 ,  G09F 9/30 330

FI (5件)：

G09F 9/00 352 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1343 ,  G02F 1/1365 ,  G09F 9/30 330 Z

Fターム (33件)：

2H088FA13 ,  2H088FA15 ,  2H088HA02 ,  2H088HA08 ,  2H088MA20 ,  2H092JA01 ,  2H092JB22 ,  2H092JB31 ,  2H092JB77 ,  2H092MA30 ,  2H092MA47 ,  2H092MA56 ,  2H092NA30 ,  2H092PA06 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094BA03 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094DA14 ,  5C094DA15 ,  5C094DB01 ,  5C094DB04 ,  5C094EA03 ,  5C094EA04 ,  5C094EA07 ,  5C094EB02 ,  5G435AA17 ,  5G435BB12 ,  5G435EE33 ,  5G435EE41 ,  5G435HH12 ,  5G435KK05