特許

J-GLOBAL ID：200903036713948101

磁区観察方法および磁区観察装置

発明者： 北沢 宏一 ,  長谷川 哲也 ,  福村 知昭 ,  中川 準
出願人/特許権者： ティーディーケイ株式会社
代理人 (1件)： 石井 陽一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-048979
公開番号（公開出願番号）：特開平11-231031
出願日： 1998年02月13日
公開日（公表日）： 1999年08月27日
要約：

【要約】【課題】 強力な磁場中において、磁性体表面に存在する微小な磁区の観察を可能とする。【解決手段】 磁性体に磁場を印加しながら、分解能が2μm×2μm以下であるホール素子で前記磁性体表面を走査することにより、前記磁性体表面の磁区の構造を観察する磁区観察方法。

請求項（抜粋）：

磁性体に磁場を印加しながら、分解能が2μm×2μm以下であるホール素子で前記磁性体表面を走査することにより、前記磁性体表面の磁区の構造を観察する磁区観察方法。

IPC (3件)：

G01R 33/12 ,  G01N 27/72 ,  G01R 33/07

FI (3件)：

G01R 33/12 Z ,  G01N 27/72 ,  G01R 33/06 H