特許

J-GLOBAL ID：200903036734707740

エスカレーターハンドレールの劣化診断方法

発明者： 五嶋 匡 ,  長沼 清 ,  佐保田 典之
出願人/特許権者： 株式会社日立ビルシステム
代理人 (3件)： 武 顕次郎 ,  小林 一夫 ,  鈴木 市郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-118454
公開番号（公開出願番号）：特開2006-298510
出願日： 2005年04月15日
公開日（公表日）： 2006年11月02日
要約：

【課題】ハンドレールの劣化をハンドレールの内部に起こる層間距離による膨れの高さ、または、浮き上がりの長さから判定し、ハンドレールを取外すことなく効率良く実施するエスカレーターハンドレールの劣化診断方法を提供する。【解決手段】複数の材料を積層して構成したエスカレーターハンドレールの劣化を判定するハンドレール診断方法において、前記ハンドレールが摺動走行するハンドレールガイド4に接触する走行面と人の手が触れる化粧ゴム面との厚み変動10bを測定し、予め定めたしきい値と比較することで劣化状況を判定することを特徴とした。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

エスカレーターハンドレールの劣化を判定するハンドレール診断方法において、 前記ハンドレールが摺動走行するハンドレールガイドに接触する走行面と人の手が触れる化粧ゴム面との厚み変動を測定し、予め定めたしきい値と比較することで劣化状況を判定することを特徴としたエスカレーターハンドレールの劣化診断方法。

IPC (1件)：

B66B 29/00

FI (1件)：

B66B29/00 G

Fターム (3件)：

3F321EA17 ,  3F321EB07 ,  3F321EC06

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特許第3186326号(段落0016〜0017、図6)
  
• ハンドレール用スチールコードの異常診断方法、異常診断装置および異常検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-114066   出願人：株式会社日立ビルシステム