特許
J-GLOBAL ID:200903036814355438

干渉計光回路及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-017943
公開番号(公開出願番号):特開2002-221630
出願日: 2001年01月26日
公開日(公表日): 2002年08月09日
要約:
【要約】【課題】 TE偏光とTM偏光に対する光路長(位相)を独立に調整できるようにする。【解決手段】 導波路コア2の直上には、幅がW1,W2 と異なる2種類の加熱処理領域としての薄膜ヒーター4a,4bが備えられている。薄膜ヒータ4a,4bに、通電をして加熱処理をすると、クラッド層3が変質し、導波路コア2に加わる応力が変化し、偏光依存性を制御することができる。したがって、薄膜ヒーター4a,4bの幅や通電量を変えることにより、TE偏光とTM偏光を独立させて恒久的な実行屈折率(複屈折率)制御を行うことができる。これにより、例えばTMは位相差λ/2、TMは位相差ゼロに併せ込むことができる。
請求項(抜粋):
基板上でクラッド層に屈折率の高いコア部が埋設された光導波路を用いて形成される干渉計光回路で、光導波路近傍の局所的な加熱処理により光導波路の実効屈折率が部分的に恒久的に変化する現象を利用して、この干渉計光回路を構成する光導波路の光路長が調整されている干渉計光回路において、少なくとも2種類以上の構造の加熱処理領域を備えていることを特徴とする干渉計光回路。
IPC (2件):
G02B 6/126 ,  G02B 6/12
FI (2件):
G02B 6/12 E ,  G02B 6/12 F
Fターム (5件):
2H047KA03 ,  2H047KA12 ,  2H047LA12 ,  2H047NA01 ,  2H047TA22
引用特許:
審査官引用 (1件)

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