特許

J-GLOBAL ID：200903036901118183

大気圧イオン化質量分析装置

発明者： 貫名 義裕
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-285124
公開番号（公開出願番号）：特開2000-113852
出願日： 1998年10月07日
公開日（公表日）： 2000年04月21日
要約：

【要約】【課題】 大気圧イオン源で生成され導入口を介して中間排気室に導入されたイオンを、広い質量範囲にわたり、高い通過効率で質量分析部へ導くことのできる大気圧イオン化質量分析装置を提供する。【解決手段】大気圧又はその近傍の圧力雰囲気中で試料をイオン化し、真空中に配置された質量分析部へ導入口を介して導入し質量分析する大気圧イオン化質量分析装置において、導入口を介して導入されたイオンを前記質量分析部へ導くイオンガイドであって、イオン通過口を有する板状電極を多数通過口を合わせて一列に配置し各電極に交互に極性の異なる電圧を印加したイオンガイド21を設ける。このイオンガイドの途中の電極と電極の間に質量分析部が配置される部屋と導入口を介してイオンが導入される部屋とを仕切る隔壁31を設ける。

請求項（抜粋）：

大気圧又はその近傍の圧力雰囲気中で試料をイオン化し、真空中に配置された質量分析部へ導入口を介して導入し質量分析する大気圧イオン化質量分析装置において、導入口を介して導入されたイオンを前記質量分析部へ導くイオンガイドであって、イオン通過口を有する板状電極を多数通過口を合わせて一列に配置し各電極に交互に極性の異なる電圧を印加したイオンガイドを設け、該イオンガイドの途中の電極と電極の間に質量分析部が配置される部屋と導入口を介してイオンが導入される部屋とを仕切る隔壁を設けたことを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。

IPC (3件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06

FI (3件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 E ,  H01J 49/06

Fターム (4件)：

5C038FF07 ,  5C038GG08 ,  5C038GH11 ,  5C038GH13