特許
J-GLOBAL ID：200903036913564669
ディジタル信号の品質評価装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
早川 誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-322248
公開番号（公開出願番号）：特開2001-144819
出願日： 1999年11月12日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
要約：
【要約】【課題】 ディジタル信号の波形品質を正確に且つ定量的に把握できるようにする。【解決手段】上側包絡線検出手段33は、誤り測定器28に全ビット0の参照信号を入力させた状態で、アナログコンパレータ21のしきい値Vsを可変するとともに、クロック信号CKに対する遅延回路24の遅延時間Tdを可変して、誤り率Eが基準値を通過するときのしきい値Vsと遅延時間Tdとで決まる座標点を上側包絡線の座標点として求め、下側包絡線検出手段34は、誤り測定器28に全ビット1の参照信号を入力させた状態で、しきい値Vsをディジタル信号の下側の包絡線と交わる範囲で可変するとともに遅延時間Tdを可変して、誤り率Eが基準値を通過するときのしきい値Vsと遅延時間Tdとで決まる座標点を下側包絡線の座標点として求める。
請求項（抜粋）：
入力される評価対象のディジタル信号の電圧としきい値電圧とを比較するアナログコンパレータ(21)と、前記評価対象のディジタル信号とともに入力されるクロック信号を遅延する遅延回路(24)と、前記アナログコンパレータの出力レベルを前記遅延回路によって遅延されたクロック信号によって読み取る読取回路(25)と、全ビット0の第1の参照信号および全ビット1の第2の参照信号のいずれかを選択的に出力する選択回路(27)と、前記読取回路から出力される信号と前記選択回路から出力される信号とのビット誤りを検出し、その誤り率を測定する誤り率測定器(28)と、前記選択回路から前記第1の参照信号を選択させた状態で、前記しきい値をディジタル信号の上側の包絡線と交わる範囲で可変するとともに、前記遅延時間を可変して、前記誤り率測定器の誤り率が所定の基準値を通過するときのしきい値と遅延時間とからなる座標点を求める上側包絡線検出手段(33)と、前記選択回路から前記第2の参照信号を選択させた状態で、前記しきい値をディジタル信号の下側の包絡線と交わる範囲で可変するとともに、前記遅延時間を可変して、前記誤り率測定器の誤り率が前記基準値を通過するときのしきい値と遅延時間とで決まる座標点を求める下側包絡線検出手段(34)と、表示装置(41)と、前記上側包絡線検出手段によって検出された上側包絡線と下側包絡線検出手段によって検出された下側包絡線とを前記表示装置の時間軸と電圧軸とからなる座標上に表示する波形表示手段(35)とを備えたディジタル信号の品質評価装置。
IPC (3件)：
H04L 25/02 302
, G01R 31/28
, H04L 1/00
H04L 25/02 302 B
, H04L 1/00 C
, G01R 31/28 V
2G032AA09
, 2G032AD06
, 2G032AD07
, 2G032AG07
, 5K014AA01
, 5K014EA01
, 5K014EA08
, 5K014FA09
, 5K014GA02
, 5K014GA03
, 5K029AA03
, 5K029BB01
, 5K029FF05
, 5K029HH11
, 5K029KK25
, 5K029LL08
, 9A001BZ04
, 9A001LL08
