特許

J-GLOBAL ID：200903036963633262

半導体装置

発明者： 熊澤 文明
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-221624
公開番号（公開出願番号）：特開平5-060841
出願日： 1991年09月02日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：

【要約】【目的】半導体装置のテスト時に、どの様なテストパターンにおいても静止電流の測定を可能とし、CMOSテストの容易化を図る。【構成】外部からの信号を半導体集積回路内に取り込む入力回路部分において、外部と接続される入力端子にプルアップ回路あるいはプルダウン回路を備え、前記プルアップ回路あるいはプルダウン回路の電流値を制御する制御端子を備えた半導体装置。

請求項（抜粋）：

外部からの信号を半導体集積回路内に取り込む入力回路部分において、外部と接続される入力端子がプルアップ回路あるいはプルダウン回路を備え、前記プルアップ回路あるいはプルダウン回路の電流値を制御する制御端子が備えられている構成を特徴とする半導体装置。

IPC (6件)：

G01R 31/28 ,  G11C 11/409 ,  H01L 21/66 ,  H01L 27/04 ,  H01L 27/092 ,  H03K 19/0175

FI (4件)：

G01R 31/28 U ,  G11C 11/34 354 A ,  H01L 27/08 321 M ,  H03K 19/00 101 K