特許

J-GLOBAL ID：200903036972009431

位置ずれ量計測方法

発明者： 横山 晴彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-003956
公開番号（公開出願番号）：特開2000-207557
出願日： 1999年01月11日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】 計測対象品の汚れや照明ムラがあっても、それらの影響を受け難く信頼性の高い位置ずれ量計測ができ、しかも処理時間を低減させることができる位置ずれ量計測方法を提供する。【解決手段】 基準画像2から抽出した全ての基準エッジ点5、計測対象品を撮像して得た入力画像1から抽出した全てのエッジ点3それぞれの組合せについて、両エッジ点3、5間の相対座標 (x',y')を求めて仮想平面7にプロットする毎に、プロットされる座標点 (x',y')のカウント値E (x',y')を1ずつカウントアップして仮想変換画像8を得て、この仮想変換画像8を平滑化し、平滑化した仮想変換画像9内で最大のカウント値Fmax を持つ座標点Aの座標 (x'max,y'max) をもって計測対象品の位置ずれ量 (x'max ,y'max) とする。

請求項（抜粋）：

計測対象品を撮像して得た入力画像と、画像照合および位置の基準となる基準画像とに基づいて計測対象品の位置ずれ量を求める位置ずれ量計測方法において、基準画像から基準エッジ点を抽出し、抽出した全ての基準エッジ点からなるマスター画像を登録しておき、計測対象品の対象範囲を撮像し、撮像した入力画像からエッジ点を抽出し、抽出した全てのエッジ点からなるエッジ抽出画像を格納し、前記マスター画像の全基準エッジ点それぞれと前記エッジ抽出画像の全エッジ点それぞれとの組合せについて両エッジ点間の相対座標を求め、求めた相対座標を仮想平面にプロットする毎に、プロットされる座標点のカウント値を1ずつカウントアップして仮想変換画像を得た後、この仮想変換画像を平滑化し、平滑化した仮想変換画像内で最大のカウント値を持つ座標点を特定し、特定した座標点の座標をもって計測対象品の位置ずれ量とすることを特徴とする位置ずれ量計測方法。

IPC (2件)：

G06T 7/00 ,  G01B 11/00

FI (3件)：

G06F 15/62 405 C ,  G01B 11/00 H ,  G01B 11/00 C

Fターム (31件)：

2F065AA01 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC19 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR06 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE03 ,  5B057CE05 ,  5B057CE06 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC16 ,  5B057DC32