特許
J-GLOBAL ID：200903037006361419
基板及び基板試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-182308
公開番号（公開出願番号）：特開平5-026965
出願日： 1991年07月23日
公開日（公表日）： 1993年02月05日
要約：
【要約】【目的】 押圧部及びフィクスチャーを小形化し、もって、試験装置を小形化する。また、異なる種類の基板の試験において、押圧部及びフィクスチャーを共通化することによって部品コストを低減し、試験時間を短縮する。【構成】 基板上に複数のテストポイントを集合し、及び/または、信号の種類別に区分し、このテストポイントから信号を取出す複数の試験ピンを基板上のテストポイントに対応した位置に集合して取付け、基板を試験ピンに押圧保持する押圧部を試験ピンと対応して基板の試験ピンと反対側の上方に配設した。
請求項（抜粋）：
複数の電子部品が取付けられた基板において、試験すべき信号を取出すための複数のテストポイントを集合して設定したことを特徴とする基板。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G01R 31/02
, H05K 1/11
, H05K 13/08
