特許

J-GLOBAL ID：200903037068622790

レベル計測装置

発明者： 山浦 剛俊 ,  開 登喜雄 ,  樋口 利直 ,  池田 幸治
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-100187
公開番号（公開出願番号）：特開平9-287998
出願日： 1996年04月22日
公開日（公表日）： 1997年11月04日
要約：

【要約】【目的】媒質や絶縁材の環境変化による誘電率変化に拘らず正確にレベルを計測できるレベル計測装置を提供すること。【構成】媒質1を貯蔵した貯蔵容器2の中に電極3となる金属片を絶縁材4を介して設置し、貯蔵容器2と電極3との間に交流電圧をかけて静電容量を計測し、この静電容量の変化から貯蔵容器2と電極3との間に存在する媒質1の量を求め、貯蔵容器2内にある媒質1のレベルを推定する装置であり、静電容量を測定する交流電圧の周波数を変化させて媒質1と電極3を固定している絶縁材4との各誘電損失が最大となる周波数を求める手段(52)と、予め求められている周波数と誘電率との関係に、前記誘電損失が最大となる周波数を用いて絶縁材4及び媒質1の誘電率を決定する手段(53)と、測定した電極3の静電容量の変化を絶縁材4及び媒質1の誘電率で補正しレベルを求める手段(8)と、を具備。

請求項（抜粋）：

液体または粉体からなる媒質を貯蔵した貯蔵容器の中に電極となる金属片を電気的に絶縁するよう絶縁材を介して設置し、前記貯蔵容器と前記電極との間に交流電圧をかけて静電容量を計測し、この静電容量の変化から前記貯蔵容器と前記電極との間に存在する前記媒質の量を求めることにより、前記貯蔵容器内にある前記媒質のレベルを推定するレベル計測装置であり、静電容量を測定する交流電圧の周波数を変化させて前記媒質と前記電極を固定している前記絶縁材との各誘電損失が最大となる周波数を求める手段と、予め求められている周波数と誘電率との関係に、前記誘電損失が最大となる周波数を用いて前記絶縁材の誘電率および前記媒質の誘電率を決定する手段と、測定した前記電極の静電容量の変化を前記絶縁材の誘電率および前記媒質の誘電率で補正してレベルを求める手段と、を具備したことを特徴とするレベル計測装置。