特許
J-GLOBAL ID：200903037070364839
形状特徴計測装置および方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-002571
公開番号（公開出願番号）：特開平8-189819
出願日： 1995年01月11日
公開日（公表日）： 1996年07月23日
要約：
【要約】【目的】 特徴量として微分幾何学的量を用いることなく、限られた条件下でなく、ユークリッド空間に存在する対象物体の形状特徴を抽出して計測できる形状特徴計測装置を提供する。【構成】 形状特徴計測装置51は、入力された形状データ59を基に、面素演算部53が各距離座標格子点での面素を演算し、点間距離演算部55が予め規定された基点P0 と各距離座標格子点との間の点間距離を演算し、フィルタリング部57が演算された距離に重み付けを行なってさらに面素、X座標値、Y座標値およびZ座標値の和である特徴量A,X,Y,Zを演算して、平均化されたフィルタリング結果である結果座標FX,FY,FZを演算してフィルタリングする。得られたフィルタリング結果61は、入力形状データ59での形状特徴としての凹凸の度合を示すこととなる。
請求項（抜粋）：
n次元ユークリッド空間に存在するm(n≧m)次元対象物体の形状特徴を抽出して計測する形状特徴計測装置であって、前記m次元対象物体の外形の複数の点を含む一部分を規定するための要素を演算する要素演算手段と、予め定められた基点と前記一部分に含まれる各点との間の点間距離を演算する点間距離演算手段と、前記演算された前記基点と前記一部分に含まれる各点との間の点間距離に重み付けを行ない、前記演算された要素および前記重み付けられた点間距離を用いて前記複数の点の座標を平均化してフィルタリングするフィルタリング手段とを備えた、形状特徴計測装置。
IPC (2件)：
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