特許
J-GLOBAL ID：200903037086723740
磁気テープ検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
脇 篤夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-202984
公開番号（公開出願番号）：特開平8-050012
出願日： 1994年08月05日
公開日（公表日）： 1996年02月20日
要約：
【要約】【目的】 磁気テープ検査装置において微小欠陥の検出精度を向上する。【構成】 信号変化を増幅される微分回路7a、及びそれぞれしきい値が設定され、大欠陥を検出するスレッショルド回路8a1 、と中欠陥を検出するスレッショルド回路8a2 によって構成されている欠陥検出部6aと、微分回路7bの前段に配され微小欠陥レベルとほぼ同等のテープの走行ノイズ、電気的ノイズ等を除去するバンドパスフィルタ9bと、微小欠陥レベルに対応したしきい値が設定されているスレッショルド回路8bによって構成されている欠陥検出部6bによって磁気テープ検査装置を構成する。また、欠陥検出部6bのバンドパスフィルタ9bとスレッショルド回路8bの設定を変更してパラレルに接続し、さらに小さな欠陥を検出することも可能である。
請求項（抜粋）：
磁気テープの送出部及び巻取り部と、上記送出部から上記巻き取り部を走行する上記磁気テープを照明する光源と、上記光源で照明された上記磁気テープの反射光を撮影する撮影手段と、上記撮影手段から出力される上記磁気テープ表面の反射光に対応した検出信号から上記磁気テープの欠陥を検出する検出部と、上記検出部で得られた検出結果を出力する出力手段により構成され、上記検出部は上記撮影手段から供給される検出信号の信号変化を増幅する微分回路と、それぞれ異なる所定のしきい値が設定され上記微分回路から供給された微分信号レベルが前記しきい値以上である場合に出力する第一、第二のスレッショルド回路からなる第一の欠陥検出部と、上記第一の欠陥検出部と並列に接続され、上記検出信号の所定帯域のみを通過させるバンドパスフィルタと、上記バンドパスフィルタを通過した上記検出信号の信号変化を増幅する微分回路と、上記第一、第二のスレッショルド回路より低いしきい値が設定されている第三のスレッショルド回路からなる第二の欠陥検出部を備えて構成されていることを特徴とする磁気テープ検査装置。
IPC (2件)：
G01B 11/30 102
, G11B 5/84
