特許
J-GLOBAL ID：200903037132304811
三次元物体形状計測方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡部 敏彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-083272
公開番号（公開出願番号）：特開平8-254424
出願日： 1995年03月15日
公開日（公表日）： 1996年10月01日
要約：
【要約】【目的】 画像間の対応付けの容易性を向上させ、三次元物体の形状を高精度に計測することができる三次元物体形状計測方法及び装置を提供する。【構成】 主撮像装置201と撮像装置202とにより撮像された画像を用いて物点Pの被写体距離Zが計測された後、該計測結果を利用して、主撮像装置201と副撮像装置203とにより撮像された画像を用いて物点Pの被写体距離Zが再計測される。一方、主撮像装置203と撮像装置204との組合せ、次いで主撮像装置203と副撮像装置201との組合せで、同様に物点Pの被写体距離Zが計測される。そして、上記2つの被写体距離計測結果が、撮像装置201を主撮像装置としたときに得られた結果の方により重きをおいて統合され、物点Pの被写体距離Zが算出される。
請求項（抜粋）：
三次元物体の各部位を撮像する少なくとも1つの主撮像装置及び該主撮像装置に対し光軸が略同一かつ前記各部位からの前記光軸方向への撮像距離が異なる位置に配置された撮像装置により撮像された画像を用いて前記各部位と前記主撮像装置との間の前記光軸方向への被写体距離を計測する第1の距離計測工程と、前記主撮像装置及び該主撮像装置に対し光軸が略平行かつ前記撮像距離が略同一の位置に配置された副撮像装置により撮像された画像を用いて前記各部位の被写体距離を計測する第2の距離計測工程と、前記各部位の被写体距離計測値に基づき前記各部位の被写体距離を算出する距離算出工程とを備えた三次元物体形状計測方法であって、前記第1の距離計測工程で前記各部位の被写体距離を計測した後、前記第2の距離計測工程で直前の前記被写体距離の計測結果を利用して、次回の前記各部位の被写体距離計測に用いる前記副撮像装置を、前記主撮像装置の光軸に最も近い光軸を有する副撮像装置から徐々に遠い光軸を有する副撮像装置へと移行して前記各部位の被写体距離を順次計測し、さらに前記距離算出工程で、前記順次計測され最後に得られた前記各部位の被写体距離計測値に、前記各部位と前記各主撮像装置の光軸との間の光軸間距離が近いほど重きをおいて前記各部位の被写体距離を算出することを特徴とする三次元物体形状計測方法。
IPC (4件)：
G01C 3/06
, G01B 11/24
, G06T 7/00
, G06T 1/00
G01C 3/06 V
, G01B 11/24 K
, G06F 15/62 415
, G06F 15/64 M
