特許
J-GLOBAL ID：200903037143921430
プリント基板の洗浄度検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-280030
公開番号（公開出願番号）：特開平5-119007
出願日： 1991年10月25日
公開日（公表日）： 1993年05月14日
要約：
【要約】【目的】 プリント基板における部分的な洗浄度の検査を容易に、かつ短時間で行う。【構成】 基板本体1a上の一対のランド2,3の間に各ランド2,3に連続する銀製の電極パターン6,7を形成しておき、両電極パターン6,7の間に所定の直流電圧を印加する。電子部品を実装して洗浄に供した後のプリント基板1において、両電極パターン6,7の間にフラックス残渣や水が残っている場合には、両電極パターン6,7の間が短絡され、電流値や抵抗値が理論値に比べて変化する。一方、洗浄が確実に行われている場合には、両電極パターン6,7の間が短絡しておらず、電流値や抵抗値は理論値とほぼ同じ値を示す。そのため、電圧印加後に両電極パターン6,7の間の電流値又は抵抗値の少なくとも一方の値を測定することにより、その測定結果に基づいて洗浄度の判定がなされる。
請求項（抜粋）：
基板本体上に電子部品を実装して、洗浄に供した後に行われるプリント基板の洗浄度検査方法において、前記基板本体及び前記電子部品の対向面の少なくとも一方の面に一対の銀系電極パターンを所定間隔だけ隔てて形成しておき、それら両銀系電極パターンの間に所定の直流電圧を印加し、その電圧印加後における前記両銀系電極パターンの間の電流値又は抵抗値の、少なくとも一方の値に基づいて洗浄度の判定を行うことを特徴とするプリント基板の洗浄度検査方法。
IPC (2件)：
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