特許

J-GLOBAL ID：200903037158351761

磁気ヘッドの検査方法および磁気ディスク装置

発明者： 霜越 正義 ,  吉田 史 ,  兒玉 直樹
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-334405
公開番号（公開出願番号）：特開平9-180142
出願日： 1995年12月22日
公開日（公表日）： 1997年07月11日
要約：

【要約】【課題】 MRヘッドのMR素子の磁区構造変化に伴う再生波形変動を短時間で正確に検査する。【解決手段】 記録用媒体の一部に設けられた検査用領域に検査用信号を記録した後(ステップ501,502)、検査用領域からMRヘッドによって検査用信号の読出しおよび測定を行うステップ(ステップ503)と、検査用領域から離れた磁界印加領域に移動してMRヘッドに磁界を印加するステップとを所定の回数だけ繰り返した後(ステップ504〜507)、測定結果の各種変動量(たとえば再生出力変動、再生波形の非対称性の変動)を計算して(ステップ508)評価し(ステップ509)、変動量が規定値以下の場合に当該MRヘッドを良品とし(ステップ510)、規定値を越えた場合に不良品と判定する(ステップ511)磁気ヘッドの検査方法である。

請求項（抜粋）：

記録媒体に信号を記録する記録ヘッド部と、磁気抵抗効果を有する薄膜素子から構成され、前記記録媒体からの漏洩磁束の変化を前記薄膜素子の抵抗変化として検出することによって前記信号の再生を行う磁気抵抗効果型再生ヘッドとを含む磁気ヘッドの検査方法であって、前記磁気抵抗効果型再生ヘッドへ外部から磁界を印加する第1のステップと、前記記録媒体に記録された前記信号から前記磁気抵抗効果型再生ヘッドによって再生される前記再生信号波形の電気的特性を測定する第2のステップとを交互に繰り返すことによって得られる複数の測定値の変動を検査することを特徴とする磁気ヘッドの検査方法。

IPC (3件)：

G11B 5/455 ,  G11B 5/02 ,  G11B 5/39

FI (3件)：

G11B 5/455 D ,  G11B 5/02 U ,  G11B 5/39