特許
J-GLOBAL ID：200903037181280979
X線断層撮影方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
磯村 雅俊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-146332
公開番号（公開出願番号）：特開平8-010251
出願日： 1994年06月28日
公開日（公表日）： 1996年01月16日
要約：
【要約】【目的】X線検出素子の実装上の配列密度を高くせずに、分解能の高い再構成画像を得ることである。また回転中心から離れた周辺部でも理想的なサンプリングピッチを持つ投影データを得ることができるようにする。【構成】撮影機構としてX線源、X線焦点の位置偏位の制御手段、各X線検出素子に対する積分器,切替器およびその制御手段、得られた投影データの処理機構として補間演算を行う手段、補間演算に必要なパラメータを保管する手段を有する。X線焦点の位置を、第1の位置と第2の位置の間で一回の投影ごとに交互に切替え、切替器によって各X線検出素子と積分器の接続の切替を行う。得られた投影データをもとに補間演算を行なう手段において、仮想的にX線検出素子の配列密度を倍にした装置による投影データに相当する投影データを生成する。
請求項（抜粋）：
X線源によってX線を連続的に照射し、被検体を透過した該X線を、該被検体をはさんで該X線源に対向する位置に配列ピッチ角(Db)で配列された多数のX線検出素子によって投影データとして計測し、該X線源およびX線検出素子の位置を微小角度(Da)ずつ回転させながら、多方向からの投影データの計測を繰り返して得られる全投影データをもとに、該被検体内部の放射線吸収係数の分布を再構成するX線断層撮影方法において、特にX線焦点の位置を偏位させることが可能な上記X線源、および各X線検出素子毎に複数用意されている計測値を一時的に保持する手段を用いて、X線焦点を第1の位置においてX線を照射して第1の投影データを得、次に、X線焦点を第2の位置においてX線を照射して第2の投影データを得、それ以降も同様に、X線焦点位置を第1の位置と第2の位置の間で交互に切替えながら全周に渡る投影データを得るが、該X線焦点位置あるいは該位置の切替タイミングに応じて各X線検出素子と計測値を一時的に保持する手段との接続、あるいは計測値を一時的に保持する手段と計測値を一時的に保持する手段との接続を切替えることを特徴とするX線断層撮影方法。
IPC (2件)：
A61B 6/03 350
, A61B 6/03 320
