特許

J-GLOBAL ID：200903037200485447

質量分析装置

発明者： 鍋島 貴之 ,  坂入 実 ,  高田 安章 ,  小泉 英明 ,  平林 集 ,  平林 由紀子
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-282888
公開番号（公開出願番号）：特開平9-129175
出願日： 1995年10月31日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：

【要約】【課題】イオンを安定に検出することが可能で、且つ高いSN比の質量スペクトルを得ることが可能なイオントラップ型質量分析装置を提供する。【解決手段】イオントラップの内部でイオン化を行うための電子や、イオントラップ外部で生成したイオンを、エンドキャップ以外の場所からイオントラップの内部へ打ち込む。その後イオントラップの内部に閉じ込めたイオンを2つの対向するエンドキャップ電極、両側の細孔から引き出し、それぞれの後段に設けたイオン検出部で検出する。最後にそれぞれで検出したデータを加え合わせる。

請求項（抜粋）：

2つの対向するエンドキャップ電極と、上記エンドキャップ電極間の空間を囲むように配置される1つのリング電極から構成されるイオントラップを有する質量分析装置において、上記イオントラップの内部から、特定のイオンを2つの上記エンドキャップ電極の中心あるいは中心近傍の細孔を通して、対向する両方向に引き出すことを特徴とする質量分析装置。

IPC (4件)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/14

FI (5件)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 G ,  G01N 27/62 E ,  G01N 30/72 A ,  H01J 49/14