特許
J-GLOBAL ID:200903037232216359

複数電極アレイ・センサを用いた局所腐食度を測定する改良された方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 真田 雄造 ,  尾原 静夫
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-507559
公開番号(公開出願番号):特表2007-532887
出願日: 2005年04月08日
公開日(公表日): 2007年11月15日
要約:
複数電極アレイ・センサを使用した局所腐食を測定する方法。本方法は、腐食した電極の内部電流の影響をなくし、したがって、より正確な腐食測定を可能にする。一実施形態では、センサの共通ノードの電位は、センサの陰極性の最も大きい電流がゼロに近くなるように調整される。
請求項(抜粋):
対象の部位において、腐食または他の不均質な電気化学的プロセスを測定するために、複数電極アレイ・センサを使用する方法であって、 前記センサを前記対象の部位における前記プロセスにさらすことを含み、 前記センサは、各電極が、前記プロセスにさらされるように動作可能な表面エリアを有するように、かつ、各電極が、他の電極から電気絶縁されるように配列された、実質的に同じ金属電極のアレイを有し、 各電極は、その電極における腐食の程度に応じて陽極または陰極として動作可能であり、 各電極は、前記センサが、一片の電極表面をシミュレートするように、共通ノードに電気接続され、 前記共通ノードの電圧を、前記電極の内部電流の影響を実質的になくす値に、調整すること、 前記電極の1つまたは複数の電極にわたる電圧を測定すること、および、 測定するステップの結果に基づいて腐食値を決定することを含む方法。
IPC (2件):
G01N 27/26 ,  G01N 17/02
FI (3件):
G01N27/26 351H ,  G01N17/02 ,  G01N27/26 351K
Fターム (7件):
2G050AA01 ,  2G050CA04 ,  2G050EA01 ,  2G050EA06 ,  2G050EB03 ,  2G050EB04 ,  2G050EC01
引用特許:
審査官引用 (2件)

前のページに戻る