特許
J-GLOBAL ID：200903037272813350
光学測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-102562
公開番号（公開出願番号）：特開平9-288009
出願日： 1996年04月24日
公開日（公表日）： 1997年11月04日
要約：
【要約】【目的】 微粒子をプローブとして用い、プローブを非接触に捕獲して試料近傍を走査して、試料とプローブの相互作用力の大きさをnmオーダーの分解能で観測する装置を提供すること。【構成】 プローブ微粒子の光学トラップのための機構と、試料観察、解析のための機構からなる。レーザー光源6で発生させた単色の平行光は対物レンズ5によって集束光とされ蛍光微粒子18が捕獲される。蛍光微粒子18は、光の集束点の移動により、溶液中を移動させられる。移動させながら微粒子の蛍光の偏光強度を連続的に測定して移動した軌跡上に存在する試料20の表面形状が計測される。
請求項（抜粋）：
溶液中に保持された試料と、該溶液中に配置され、光学的な異方性を持ち、その重心の位置から偏心した位置にプローブを付加した微粒子と、前記微粒子を捕獲するための所定の波長領域の光束を発生させる光源と、所定の領域に前記光束を集光させ前記微粒子を捕獲する手段と、前記集光点を移動させる手段と、前記微粒子に付加した蛍光色素を励起する所定の波長領域の光源と、前記微粒子の蛍光のみを通過させ、これを複数分岐させる光路と、その各光路の後段に配置された複数の異なる向きの偏光子と、前記微粒子の蛍光のそれぞれの偏光の強度の比から微粒子の傾きを計測する手段とを具有することを特徴とする光学測定装置。
IPC (5件)：
G01J 4/00
, G01B 11/26
, G01N 1/02
, G01N 21/64
, G01N 33/483
G01J 4/00
, G01B 11/26 Z
, G01N 1/02 Z
, G01N 21/64 Z
, G01N 33/483 C
