特許

J-GLOBAL ID：200903037292694160

光学的測定装置

発明者： 増田 堅司
出願人/特許権者： ダイキン工業株式会社
代理人 (1件)： 津川 友士
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-259742
公開番号（公開出願番号）：特開平6-109635
出願日： 1992年09月29日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：

【要約】【目的】 振動や熱膨張等による受光位置の変動による測定誤差を低減する。【構成】 光導波路4から僅かにしみ出すエバネッセント波成分により光導波路4の反応面における蛍光をサイドオン型PMT70に入射させることにより、抗原-抗体反応量の測定を行なう免疫測定装置であって、集光レンズ6の集光位置がサイドオン型PMT70の受光面71より所定距離dずれて設定されていることにより、サイドオン型PMT70のユニフォミティと呼ばれる感度の位置依存性による測定精度の低下を低減する。

請求項（抜粋）：

光導波路(4)に対して測定光を導入し、測定光のエバネッセント波成分により光導波路(4)の表面近傍の光学的測定を行ない、光学的測定結果を示す信号光を出射させて光検出器に導く光学的測定装置であって、光検出器としてサイドオン型光電子増倍管(70)を使用するとともに、信号光を集光させながらサイドオン型光電子増倍管(70)に入射させる光学素子(6)を備え、しかも光学素子(6)の集光位置をサイドオン型光電子増倍管(70)の受光面(71)から光軸方向に所定距離ずらして設定したことを特徴とする光学的測定装置。

IPC (3件)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/27 ,  G01N 33/543

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-273042
  
• 特開昭62-255834
  
• 特開昭63-273042
  
• 特開昭62-255834