特許
J-GLOBAL ID:200903037334762005

撮像装置の特性評価装置および特性評価方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 橋本 剛 ,  小林 博通
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-177723
公開番号(公開出願番号):特開2006-005509
出願日: 2004年06月16日
公開日(公表日): 2006年01月05日
要約:
【課題】 評価環境の小型化を可能とするとともに、特性評価の効率を向上させた撮像装置の特性評価装置を提供する。【解決手段】 特性評価用画像のデータをパソコン2で作成しておき、該作成された特性評価用画像を、遮光範囲10内のLCD1に表示し、該表示された画像をカメラ3で撮像し、カメラ3の出力信号をパソコン2に取り込んで、カメラ3の各種特性を評価する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
特性評価用画像を表示する表示手段と、 前記表示手段に表示された画像を撮像する撮像手段とを備え、 前記撮像手段の出力信号に基づいて該撮像手段の各種特性を評価することを特徴とする撮像装置の特性評価装置。
IPC (2件):
H04N 17/02 ,  H04N 17/04
FI (2件):
H04N17/02 D ,  H04N17/04 C
Fターム (5件):
5C061BB07 ,  5C061BB09 ,  5C061BB13 ,  5C061BB17 ,  5C061CC09
引用特許:
出願人引用 (1件)

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