特許

J-GLOBAL ID：200903037346128042

動きべクトル探索方式

発明者： 大西 修
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 松本 正夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-241360
公開番号（公開出願番号）：特開平10-066083
出願日： 1996年08月23日
公開日（公表日）： 1998年03月06日
要約：

【要約】【課題】 大幅な画質劣化を招くこと無く低演算量で予測誤差の小さい動きべクトルを探索することが可能な動きベクトル探索方式を提供する。【解決手段】 2段階で動きべクトルを探索する動きベクトル探索方式であり、1次探索で、最終精度の2倍の長さを1単位とする直交座標系を設定し、その直交座標系の水平および垂直方向の座標値の和が偶数あるいは奇数となる動きベクトルだけに対しブロックマッチングを行ない、ブロック内における各画素毎の予測誤差の絶対値和あるいは2乗和の合計が最小となる候補ベクトルを選択し、2次探索で、1次探索の候補べクトルを原点とし、最終精度を1単位とする直交座標系を設定し、その直交座標系の水平と垂直方向の座標値の絶対値の和が前記最終精度の2倍以下となる動きベクトルに対してブロックマッチングを行ない、ブロック内における各画素毎の予測誤差の絶対値和あるいは2乗和の合計が最小となる動きべクトルを選択する。

請求項（抜粋）：

1次探索及び2次探索の2段階で動きべクトルを探索する動きベクトル探索方式において、前記1次探索で、最終精度の2倍の長さを1単位とする第1の直交座標系を設定し、前記第1の直交座標系の水平方向および垂直方向の座標値の和が偶数あるいは奇数となる動きベクトルだけに対しブロックマッチングを行ない、ブロック内における各画素毎の予測誤差の絶対値和あるいは2乗和の合計が最小となる動きベクトルを候補ベクトルとして選択し、前記2次探索で、前記1次探索で選択された候補べクトルを原点とし、最終精度を1単位とする第2の直交座標系を設定し、前記第2の直交座標系の水平方向と垂直方向の座標値の絶対値の和が前記最終精度の2倍以下となる動きベクトルに対してブロックマッチングを行ない、ブロック内における各画素毎の予測誤差の絶対値和あるいは2乗和の合計が最小となる動きべクトルを選択することを特徴とする動きべクトル探索方式。