特許
J-GLOBAL ID：200903037407703320
自動磁粉探傷装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
押田 良久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-067208
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229876
出願日： 1996年02月27日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：
【要約】【課題】 磁粉探傷において欠陥以外のノイズを自動除去して欠陥検出能を大幅に向上させる。【解決手段】 テレビカメラ18により得られた検査対象物1表面の画像データを2値化して解析し、検査対象物1の欠陥を判定する手段23とからなる磁粉探傷装置において、検査対象物1を磁化するに先立ち、へん平化手段6により査対象物1の欠陥が広がる方向にへん平化し、欠陥検出能を大幅に向上させる。
請求項（抜粋）：
検査対象物を磁化する手段と、磁化させた検査対象物の表面に磁粉液を付着させる手段と、検査対象物表面に光を照射する手段と、該手段により照射された部分を撮像するテレビカメラと、テレビカメラにより得られた検査対象物表面の画像データを2値化して解析し、検査対象物の欠陥を判定する手段とからなる磁粉探傷装置において、検査対象物を磁化するに先立ち、検査対象物の欠陥が広がる方向にへん平化するへん平化手段を有することを特徴とする自動磁粉探傷装置。
IPC (3件)：
G01N 21/91
, G01N 27/84
, G06T 7/00
G01N 21/91 B
, G01N 27/84
, G06F 15/62 400
