特許
J-GLOBAL ID：200903037440477689
OTDRを用いた計測方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-071548
公開番号（公開出願番号）：特開平5-273081
出願日： 1992年03月27日
公開日（公表日）： 1993年10月22日
要約：
【要約】【目的】 レーザ光の損失を少なくし、かつストークス光と反ストークス光の減衰量のばらつきを少なくして計測精度を高める。【構成】 光ファイバから出射される後方散乱光の内ラマン散乱によるストークス光と反ストークス光との強度比から光ファイバの各種の分布特性を求めるOTDRを用いた計測装置において、分岐分光器1を有する。この分岐分光器1は、レーザ光源1からの入射光、レイリー散乱光などの不要光を反射し、ストークス光を透過して分離抽出するバンドパスフィルタからなる2色ミラー3と、2色ミラー3を透過しない反ストークス光を透過させるバンドパスフィルタからなる2色ミラー4とを備えている。
請求項（抜粋）：
信号パターンが同一で周波数が僅かに異なる2つの擬似ランダム信号を発生する工程と、発生した一方の擬似ランダム信号でレーザ光源を変調して光ファイバ内に入射する工程と、この光ファイバからの後方散乱光からラマン散乱によるストークス光及び反ストークス光を抽出する光成分抽出工程と、抽出したストークス光及び反ストークス光と他方の擬似ランダム信号とを乗じた後帯域制限する工程と、この帯域制限された信号に基づき光ファイバの各種特性を求める工程とを有することを特徴とするOTDRを用いた計測方法。
IPC (2件)：
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