特許
J-GLOBAL ID:200903037467417815
感光体特性評価装置及び感光体特性評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
金田 暢之 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-188209
公開番号(公開出願番号):特開2003-005389
出願日: 2001年06月21日
公開日(公表日): 2003年01月08日
要約:
【要約】【課題】 感光体表面の欠陥を検出する欠陥検出と、電子写真に関わる種々の感光体特性の評価とを同時に行う。【解決手段】 感光体101及び回転手段102の外周部に、帯電手段103、前露光手段104及び欠陥検出手段108を配置し、更に、それらの外周部に、画像露光手段105及び表面電位測定手段106が取り付けられたユニット107を配置する。ユニット107及び欠陥検出手段108は、それぞれ移動手段109,110により、感光体101の母線方向に自由に移動可能である。この構成により、ユニット107及び欠陥検出手段108を感光体101の母線方向において互いに異なる位置に移動させ、表面電位測定手段106及び欠陥検出手段108を同時に動作させることが可能になる。
請求項(抜粋):
円筒状の感光体を回転させる回転手段と、前記感光体を帯電させる帯電手段と、前記感光体を露光する露光手段と、前記感光体の表面電位を測定する表面電位測定手段と、前記感光体表面の電位変化に応じた誘導電流を発生するプローブを用いて該感光体表面の欠陥を検出する欠陥検出手段とを少なくとも有し、前記表面電位測定手段及び前記欠陥検出手段は、同時に動作を行うことが可能であることを特徴とする感光体特性評価装置。
IPC (5件):
G03G 5/00 101
, G01J 5/10
, G01N 27/61
, G03G 5/08 105
, G03G 21/00
FI (5件):
G03G 5/00 101
, G01J 5/10 D
, G01N 27/61
, G03G 5/08 105
, G03G 21/00
Fターム (7件):
2G066AA01
, 2G066AC16
, 2G066BA60
, 2G066CA14
, 2H068DA00
, 2H068EA41
, 2H134QA02
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