特許
J-GLOBAL ID:200903037512139694
X線検出器モニタリング
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
松本 研一 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-278304
公開番号(公開出願番号):特開2003-198937
出願日: 2002年09月25日
公開日(公表日): 2003年07月11日
要約:
【要約】【課題】 欠陥のおそれがあるピクセル素子を不良ピクセル・マップに追加できるように、検出器内のピクセル素子を継続的にモニタリングする方法を提供する。【解決手段】 X線源(15)及び横列と縦列の形に配列させたピクセル素子を備えたディジタル検出器(22)を含むX線システム(14)は、較正動作フェーズの間に検出器を較正しかつ異なる時点で生じる使用動作フェーズの間に検出器に電源供給する制御器(36)を用いて検出器をモニタリングしている。処理装置(28、36)は、ピクセル素子が生成させたデータを読み取り、このデータを解析し、かつ較正動作フェーズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している。
請求項(抜粋):
X線源(15)と、患者(18)の一部分のX線画像の作成に適したデータを生成させるために横列と縦列の形に配列させたピクセル素子(40)を備えたディジタル検出器(22)と、を備えるX線イメージング・システム(14)において検出器をモニタリングするための装置であって、較正動作フェーズの間に検出器を較正すること、異なる時点で生じる使用動作フェーズの間で検出器に電源供給すること、使用動作フェーズの間に照射動作モードでX線源を付勢させX線を検出器に伝達させること、及び使用動作フェーズの間に暗動作モードでX線源を抑止すること、を行うように配置させた制御器(36、34)と、前記ピクセル素子により生成されるデータを読み取ること、前記読み取ったデータを解析すること、及び較正動作フェーズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定すること、を行うように配置した処理装置(39)と、を備えるモニタリング装置。
IPC (10件):
H04N 5/32
, A61B 6/00
, A61B 6/00 300
, A61B 6/00 320
, G01T 1/00
, G01T 1/17
, G01T 7/00
, H01L 27/14
, H04N 5/335
, G01T 1/20
FI (12件):
H04N 5/32
, A61B 6/00 300 Q
, A61B 6/00 300 S
, A61B 6/00 320 Z
, G01T 1/00 B
, G01T 1/17 E
, G01T 7/00 C
, H04N 5/335 P
, G01T 1/20 E
, A61B 6/00 350 Z
, H01L 27/14 K
, H01L 27/14 Z
Fターム (47件):
2G088EE01
, 2G088FF02
, 2G088GG19
, 2G088GG20
, 2G088JJ05
, 2G088JJ36
, 2G088KK24
, 2G088KK32
, 2G088LL12
, 2G088LL18
, 2G088LL27
, 4C093AA30
, 4C093CA50
, 4C093EB12
, 4C093EB17
, 4C093ED02
, 4C093EE01
, 4C093EE16
, 4C093FA13
, 4C093FA19
, 4C093FA34
, 4C093FA43
, 4C093FC16
, 4C093FC17
, 4C093FD01
, 4C093FD09
, 4C093FH06
, 4C093GA06
, 4C093GA10
, 4M118AA07
, 4M118AA09
, 4M118AB01
, 4M118BA05
, 4M118CA02
, 4M118CA11
, 4M118CB11
, 4M118FB03
, 4M118FB09
, 4M118FB13
, 4M118GA10
, 5C024AX11
, 5C024CX22
, 5C024CX23
, 5C024CY44
, 5C024GX03
, 5C024GY31
, 5C024HX55
引用特許:
出願人引用 (7件)
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米国特許第5,657,400号(大面積半導体X線検出器内の不良ピクセルの自動特定及び補正を目的とする)、
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米国特許第5,854,655号(欠陥ピクセルの検出が可能な半導体画像取り込みデバイスの欠陥ピクセル検出回路を目的とする)、
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米国特許第5,272,536号(暗電流及び欠陥ピクセルの補正装置を目的とする)、
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米国特許第5,047,863号(非動作ピクセル検出を含む半導体イメージング・デバイス用の欠陥補正装置を目的とする)、
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米国特許第4,996,413号(画像検出器からのデータの読み取りを目的とする)、が含まれる
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Aufrichtig、Xue及びKumpの名による「Correction Of Defective Pixels In A Detector」と題する米国出願第09/474,715号(1999年12月29日提出:整理番号15-XZ-4974)
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Aufrichtig、Xue及びKumpの名による「Correction Of Defective Pixels In A Detector Using Temporal Gradients」と題する米国出願第09/474,498号(1999年12月29日提出:整理番号15-XZ-5428)には、基になる画像構造に従った幾つかのより高度な補正方法が提示されている
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審査官引用 (5件)
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