特許
J-GLOBAL ID：200903037527336500
磁性層の厚み測定システム及び磁気テープ記録再生装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-133148
公開番号（公開出願番号）：特開2004-335053
出願日： 2003年05月12日
公開日（公表日）： 2004年11月25日
要約：
【課題】磁性層の厚みを精度よく測定することができる磁性層の厚み測定システムを提供する。【解決手段】磁気テープMTの磁性層をその厚み相当の深さまで磁化する第1磁気信号及び前記磁性層をその厚み方向に部分的に磁化する第2磁気信号を記録する記録ヘッドWHと、前記第1磁気信号及び前記第2磁気信号を再生する再生ヘッドRHと、前記第2磁気信号の再生出力の変動の大きさが、予め設定した所定値より小さいと判断したときに、第1磁気信号の再生出力に基づいて前記磁性層の厚みを演算する演算装置(厚み演算用テーブル15、制御装置16)とを備える。【選択図】 図 1
請求項（抜粋）：
走行する磁気テープに摺接しながら、この磁気テープの磁性層をその厚み相当の深さまで磁化する第1波長で第1磁気信号を当該磁気テープに記録するとともに、前記磁性層をその厚み方向に部分的に磁化する第2波長で第2磁気信号を当該磁気テープに記録する記録ヘッドと、
走行する前記磁気テープに摺接しながら、前記第1磁気信号及び前記第2磁気信号をそれぞれ再生する再生ヘッドと、
前記第2磁気信号の再生出力の変動の大きさが、予め設定した所定値より小さいと判断したときに、第1磁気信号の再生出力の大きさに基づいて前記磁性層の厚みを演算する演算装置とを備えることを特徴とする磁性層の厚み測定システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (3件)：
5D091AA01
, 5D091FF02
, 5D112JJ09
