特許

J-GLOBAL ID：200903037546106949

電子部品の外観検査方法

発明者： 横山 晴彦 ,  中村 雅俊
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-039764
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229642
出願日： 1996年02月27日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：

【要約】【課題】 輪郭線上の凹凸の有無を常に適正に検出できる信頼性の高い電子部品の外観検査方法を提供する。【解決手段】 検査対象の電子部品の矩形形状の輪郭線を抽出し、その輪郭線を微分し、微分値の極小極大値と中央値との差の絶対値の大きさによって輪郭線上の凹凸の有無を判定する。

請求項（抜粋）：

検査対象の電子部品の略矩形状の輪郭線を抽出する工程と、輪郭線を微分する工程と、微分値の系列の中央値を抽出する工程と、微分値の極大極小を検出する工程と、微分値の極小極大値と中央値との差の絶対値の大きさによって輪郭線の凹凸を判定する工程とを備えたことを特徴とする電子部品の外観検査方法。

IPC (4件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  G06T 9/20

FI (5件)：

G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K ,  G01N 21/88 Z ,  G06F 15/62 405 A ,  G06F 15/70 335 Z