特許

J-GLOBAL ID：200903037645638820

外観検査方法およびその装置

発明者： 後藤 和久
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 大胡 典夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-335377
公開番号（公開出願番号）：特開2000-163579
出願日： 1998年11月26日
公開日（公表日）： 2000年06月16日
要約：

【要約】【課題】 被検査体の外観検査を人間の判定に近い判定をすることができる外観検査方法及びその装置【解決手段】 検査対象1のエッジの画素を検出するエッジ点列検出部7で検出し、それを基に、暫定検査領域作成部8で暫定的検査領域を作成し、さらに、検査領域作成部9で検査領域を設定して、判定部11で検査対象を判定する。

請求項（抜粋）：

検査対象の画像を取り込んで外観検査を行う外観検査方法において、検査対象の領域の内側に初期検査エリアを設定する第1の工程と、この第1の工程で設定された前記初期検査エリアの各辺を、この各辺を形成する画素から前記検査対象の外形方向へ形成された画素毎の点列を走査し検査対象のエッジの画素を検出する第2の工程と、この第2の工程で求めた前記エッジの画素を前記各辺毎に接続処理し、それぞれの辺の回帰式を求めて暫定的検査領域とする第3の工程と前記第2の工程で求めたエッジの画素のうち、第3の工程で求めた前記暫定的検査領域の外側のエッジの画素を前記各辺毎に接続処理して、それぞれ再度回帰式を求めて検査領域とする第4の工程と、この第4の工程で設定された前記検査領域内の画像データを画像処理して検査対象の良品または不良品を判断する第5の工程とを有することを特徴とする外観検査方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/88

FI (4件)：

G06F 15/62 405 A ,  G01B 11/24 K ,  G01N 21/88 645 Z ,  G06F 15/70 330 N

Fターム (61件)：

2F065AA12 ,  2F065AA49 ,  2F065CC17 ,  2F065CC25 ,  2F065FF04 ,  2F065FF26 ,  2F065GG16 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS04 ,  2F065UU05 ,  2G051AA61 ,  2G051AB01 ,  2G051AB02 ,  2G051AB03 ,  2G051AB07 ,  2G051AB10 ,  2G051AC01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED01 ,  2G051ED07 ,  2G051ED22 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB08 ,  5B057DC16 ,  5L096AA03 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096BA18 ,  5L096CA02 ,  5L096EA37 ,  5L096FA06 ,  5L096FA17