特許

J-GLOBAL ID：200903037653941281

順方向誤り修正符号化を使用したQファクタのモニタリングのための方法と装置

発明者： ステファン ハンシェ ,  ダニエル チャールズ キルパー ,  ウエンデリン ウエインガートナー
出願人/特許権者： ルーセント テクノロジーズ インコーポレーテッド
代理人 (8件)： 岡部 正夫 ,  加藤 伸晃 ,  産形 和央 ,  臼井 伸一 ,  越智 隆夫 ,  本宮 照久 ,  朝日 伸光 ,  三山 勝巳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-131638
公開番号（公開出願番号）：特開2004-336754
出願日： 2004年04月27日
公開日（公表日）： 2004年11月25日
要約：

【課題】全光学式のシステムの中でQファクタのような欠陥関連パラメータをモニタするためのシステム、方法および装置を提供すること。【解決手段】順方向誤り修正(FEC)を使用してビット誤り率(BER)を派生させ、このBERが欠陥関連パラメータを判定するのに使用される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光学信号からデータ信号を回復する工程、 回復した信号を、順方向誤り修正(FEC)を使用して処理し、それによってビット誤り率(BER)を判定する工程、および 判定されたBERを使用して前記光学信号の欠陥のパラメータを判定する工程を含む方法。

IPC (4件)：

H04L1/00 ,  H04B10/08 ,  H04J14/00 ,  H04J14/02

FI (3件)：

H04L1/00 C ,  H04B9/00 E ,  H04B9/00 K

Fターム (24件)：

5K014AA01 ,  5K014BA05 ,  5K014GA02 ,  5K014HA10 ,  5K028BB08 ,  5K028PP04 ,  5K102AA46 ,  5K102AA69 ,  5K102AD01 ,  5K102LA02 ,  5K102LA14 ,  5K102LA31 ,  5K102LA38 ,  5K102LA52 ,  5K102MB05 ,  5K102MB10 ,  5K102MC03 ,  5K102MD01 ,  5K102MH14 ,  5K102MH22 ,  5K102MH32 ,  5K102PC01 ,  5K102PH32 ,  5K102PH33