特許
J-GLOBAL ID:200903037680035411

電流分布測定装置、電流分布測定方法、プログラム、及び記憶媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 渡部 敏彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-146390
公開番号(公開出願番号):特開2002-340943
出願日: 2001年05月16日
公開日(公表日): 2002年11月27日
要約:
【要約】【課題】 不要電磁波の発生源、伝達経路、放射源を切り分けて特定することを可能にする。【解決手段】 被測定物の任意の位置における測定信号を基準信号として検出し、被測定物から発生する磁界を被測定物上のN個の位置で測定するものとする。基準信号を入手する(S1)。制御変数nを1に設定し(S2)、被測定物上の第n位置における磁界測定値を入手する(S3)。信号比較部及び演算処理部において、入手した基準信号及び磁界測定値を用いて電流ベクトルの算出を行う(S4)。制御変数nに1を加算し(S5)、新たに得られた制御変数nがNよりも大きいか否かを判別する(S6)。制御変数nがN以下であれば、ステップS3へ戻る。制御変数nがNよりも大きいならば、被測定物上のN個の全部の測定位置における電流ベクトルの算出を終えて、電流ベクトル分布が得られたとして、本処理を終了する。
請求項(抜粋):
被測定物の任意の位置における測定信号を基準信号として検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生する磁界を測定する磁界測定手段と、前記磁界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の位置で磁界を測定させる走査手段と、前記磁界測定手段によって測定された各磁界と、前記基準信号検出手段によって検出された基準信号とに基づき、前記被測定物における電流ベクトル分布を算出する算出手段と、前記算出手段によって算出された電流ベクトル分布を表示する表示手段とを有することを特徴とする電流分布測定装置。
Fターム (6件):
2G035AA00 ,  2G035AB04 ,  2G035AC10 ,  2G035AD20 ,  2G035AD23 ,  2G035AD38
引用特許:
審査官引用 (3件)

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