特許
J-GLOBAL ID：200903037699018232
四重極型MS/MS質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-194923
公開番号（公開出願番号）：特開平8-036989
出願日： 1994年07月26日
公開日（公表日）： 1996年02月06日
要約：
【要約】【目的】 簡単な構造の四重極型MS/MS質量分析装置を提供する。【構成】 1組の四重極電極15の一方の端部に、開裂ガスを収容する反射セル17を設け、その中にイオンを反射する反射電極18を設ける。入射イオンをチョッピング電極12によりパルス状に断続し、四重極15を通過させた後、反射セル17内で開裂させ、反射電極18で反射させて再び四重極15を通過させる。
請求項（抜粋）：
a)入射イオンをパルス状に断続するチョッピング電極と、b)チョッピング電極を通過したイオンの飛行軸に配置された四重極電極と、c)イオンの飛行方向に関して四重極電極の下流側に設けられたイオンレンズと、d)イオンレンズの更に下流側に設けられた反射セルと、e)反射セルの内部に設けられたイオン反射手段と、f)反射セルに開裂ガスを供給する開裂ガス供給手段と、g)イオンの飛行方向に関して四重極電極の上流側に設けられたデフレクタと、h)デフレクタにより偏向されたイオンを検出するイオン検出手段と、を備えることを特徴とする四重極型MS/MS質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62
, H01J 49/06
