特許
J-GLOBAL ID：200903037713534940
炭素材料の解析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
椎名 正利
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-352112
公開番号（公開出願番号）：特開平11-166894
出願日： 1997年12月05日
公開日（公表日）： 1999年06月22日
要約：
【要約】【課題】 アモルファス相と結晶相とが混在する炭素材料について精度の高い構造解析や材料の差別化が行える炭素材料の解析方法を提供する。【解決手段】 炭素材料のラマン分光法による解析手法において、そのラマンスペクトルが、炭素材料中に含まれる結晶相のG-bandとD-band、およびアモルファス相のG-bandとD-bandに由来する合計4本のピークから構成されると解釈し、4本のガウス関数を用いてカーブフィッティングする。
請求項（抜粋）：
炭素材料をラマン分光法を用いて解析する方法であって、前記炭素材料のラマンスペクトルが、アモルファス相に由来するG-bandのピーク、結晶相に由来するG-bandのピーク、アモルファス相に由来するD-bandのピーク及び結晶相に由来するD-bandのピークから構成されると解し、前記各ピークをガウス関数を用いて波形近似し、予め取得若しくは定義した各種炭素材料の前記各相に由来する前記各bandの波形の形状、波形のピーク位置、波形ピーク値、波形幅のいずれか少なくとも一つを含むパラメータを基に前記炭素材料の性能判別を行うことを特徴とする炭素材料の解析方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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